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設備・機器
機器番号
20589
設備名
赤外分光顕微鏡 (FT-IR)
規格
日本分光,IRT-5200-16
用途
無機・有機・高分子材料、半導体材料等の特性評価、物質の同定
仕様・特徴
波長範囲:7800(cm-1)~350(cm-1),透過・反射・ATR測定に対応
設置場所
ポストLEDフォトニクス研究所5F実験室1
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分類タグ
光分析装置