設備・機器


20589
赤外分光顕微鏡 (FT-IR)
日本分光,IRT-5200-16
無機・有機・高分子材料、半導体材料等の特性評価、物質の同定
波長範囲:7800(cm-1)~350(cm-1),透過・反射・ATR測定に対応
ポストLEDフォトニクス研究所5F実験室1
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光分析装置